Micro-perçage de cartes de sonde et plaques de guidage pour l'industrie des tests de plaquettes de semi-conducteurs

Les plaques de guidage des cartes de sonde utilisées dans l'industrie des tests de plaquettes de semi-conducteurs sont confrontées au défi de garantir une précision et une stabilité très élevées. Compte tenu de la miniaturisation et de la complexité croissante des circuits intégrés, les plaques doivent guider en douceur chaque sonde jusqu'à son point de test exact sur la plaquette. Toute faiblesse peut compromettre la fiabilité du test ou même endommager l'appareil testé (DUT). Les wafers évoluant avec une quantité de plus en plus dense de micropuces, le développement de cartes sondes avancées doit constamment anticiper ces progrès. La tête de sonde contenant les plaques de guidage doit être robuste et résister à d'innombrables cycles de test tout en conservant sa précision.

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Cartes de sonde, plaques de guidage, aperçu des applications de microperçage

Nous traitons tous types de plaques de guidage pour cartes de sonde sur une large gamme de matériaux céramiques (Si3N4, Photoveel, etc.). La forme des trous est programmable ; trous ronds, carrés, rectangulaires, oblongs, les possibilités sont infinies. Une très faible conicité ou une « conicité nulle » est requise pour un pas très fin afin d'éviter la perforation des trous. Utilisant un procédé caractérisé par un taux de répétition élevé et une qualité de faisceau laser inégalée, il promet une répétabilité exceptionnelle de la qualité des trous. Cette approche méticuleuse offre non seulement une productivité inégalée, mais garantit également un taux de rendement plus élevé. Il est essentiel que l'ensemble du processus soit exempt d'effets thermiques (NAZ), préservant ainsi l'intégrité du matériau à chaque étape.