Micro usinage LASER ultrarapide dans l'industrie des tests électroniques

Dans l'industrie des tests électroniques, les composants électroniques et les circuits intégrés sont testés au niveau du wafer pendant le processus de fabrication, avant d'être découpés et emballés. Une carte de sonde utilisée à cette fin de test se compose d'une plaque de guidage, ou de plusieurs plaques de guidage empilées, contenant de minuscules sondes qui créent un contact électrique entre le circuit intégré situé à la surface de la plaquette et la tête de test.

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À mesure que la taille des circuits intégrés diminue, il est nécessaire de miniaturiser la circuit dans la tête de test, ce qui entraîne une augmentation de la densité du circuit tandis que la taille des sondes diminue. La céramique est le matériau de choix pour les plaques de guidage en raison de sa dureté, de sa faible conductivité, de sa longévité et de ses caractéristiques thermiques. Cependant, les propriétés physiques de ces céramiques les rendent également difficiles à usiner à l'aide des technologies de microperçage classiques.

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Découvrez l'article complet écrit par le Dr. Amiel Lopes de Posalux dans le magazine AILU « The Laser User » numéro 110 (automne 2023)